Jeunes Chercheurs Associés
Damien R

Docteur·e - Nanométrologie électrique

  • Microscopie électronique (MEB, MET, microsonde de Castaing, etc.)
  • Modèles et simulations numériques
  • Supraconducteurs
  • Semi-conducteurs
  • Microscopie à sonde locale, en champ proche, à effet tunnel (STM), à force atomique (AFM)

Ses capacités d’intervention

Région Bourgogne-Franche-Comté
Grand Est

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En quelque mots

Jeune docteur ayant soutenu en Juin 2024 ma thèse intitulé "Métrologie des techniques de microscopie à sonde locale micro-onde appliquées aux mesures de transport dans le domaine des semiconducteurs", je suis actuellement dans ma seconde année de post-doc à l'université de Bâle dans le groupe de Martino Poggio. Ce poste s'inscrit dans le cadre de deux projets européen de métrologie (Euramet) sur l'étude de Qubit transmon (MetSuperQ) et d'échantillon montrant un effet Hall quantique anormal (QuAHMET) à l'échelle nanométrique à l'aide de mesures à sonde locale (Scanning SQUID microscopy et Scanning Microwave Microscopy).

Sa thèse

Intitulé de la thèse : Metrology of scanning microwave microscopy applied to transport measurement in semiconductors

Universités et laboratoires d’appartenance ou d’origine :

Université Claude-Bernard Lyon-I LNE

Ses expériences universitaires

A numerical analysis of the short open load calibration robustness for capacitance measurements in scanning microwave microscopy

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